Измерение дзета-потенциала наночастиц диоксида кремния на приборе BeNano 180 Zeta

 

Чжибинь Го, Хуэй Нин
Лаборатория прикладных исследований, Bettersize
📌 Краткое резюме: В статье представлены результаты измерения дзета-потенциала четырёх образцов водных суспензий нанодиоксида кремния (10% твёрдой фазы) на анализаторе BeNano 180 Zeta. Технология фазового анализа рассеянного света (PALS) обеспечивает воспроизводимые результаты даже при высокой концентрации. Все образцы демонстрируют дзета-потенциал выше 30 мВ — высокую агрегативную устойчивость. Прибор рекомендован для контроля качества и сравнения стабильности партий.

Введение: зачем измерять дзета-потенциал диоксида кремния

Наноразмерный диоксид кремния (SiO₂) обладает значительной универсальностью. Он может использоваться как абразив при химико-механической полировке (CMP) полупроводников, а также как функциональное покрытие благодаря отличным поверхностным характеристикам. Материал широко применяется в производстве резины, пластика, стали и в солнечной энергетике, улучшая армирование, устойчивость к сдвиговым нагрузкам и тиксотропию.

В 1968 году Штёбер обнаружил, что монодисперсные наночастицы диоксида кремния можно синтезировать при комнатной температуре путём гидролиза тетраэтоксисилана (ТЭОС) в этанольном растворе с добавлением аммиака. Во многих практических приложениях наночастицы SiO₂ используются именно в диспергированном состоянии. Поэтому контроль дзета-потенциала становится критическим фактором для понимания стабильности системы, предотвращения агрегации и улучшения качества конечной продукции.

Цель работы — на примере четырёх партий водных суспензий нанодиоксида кремния показать возможности BeNano 180 Zeta для измерения дзета-потенциала как при исходной высокой концентрации, так и после разбавления.

Что такое дзета-потенциал и почему он важен

Дзета-потенциал (ζ-потенциал) — электрический потенциал на границе скольжения между заряженной частицей и жидкостью. Чем выше абсолютное значение (обычно >30 мВ), тем сильнее электростатическое отталкивание и тем устойчивее суспензия к агрегации и седиментации.

Для наночастиц диоксида кремния характерен отрицательный поверхностный заряд в водной среде (диссоциация силанольных групп Si-OH). Измерение дзета-потенциала позволяет:

  • прогнозировать долгосрочную стабильность суспензий;
  • оптимизировать рецептуры (pH, ионную силу);
  • сравнивать разные партии сырья;
  • контролировать качество продукции на всех этапах производства.

Прибор и метод измерений: BeNano 180 Zeta

Использовался анализатор размера и дзета-потенциала наночастиц BeNano 180 Zeta (Bettersize).

Параметр Значение
Источник света Твердотельный лазер, 671 нм, 50 мВт
Угол детекции 12° (обратное рассеяние)
Детектор Лавинный фотодиод (APD)
Технология Фазовый анализ рассеянного света (PALS)
Диапазон дзета-потенциала ±500 мВ

Принцип работы: При наложении электрического поля заряженные частицы совершают электрофорез. Лазерный луч, рассеиваясь на движущихся частицах, приобретает частотный сдвиг (Доплер), пропорциональный электрофоретической подвижности. BeNano 180 Zeta регистрирует сдвиг и пересчитывает в дзета-потенциал.

Технология PALS детектирует чрезвычайно малые частотные сдвиги — прибор чувствителен даже для образцов с низкой электрофоретической подвижностью (высокая ионная сила, слабозаряженные частицы).

Экспериментальная часть

Объекты исследования

Четыре образца водных суспензий наноразмерного диоксида кремния (производственные партии). Содержание твёрдой фазы — 10 мас.% (без разбавления).

Условия измерений

  • Температура: 25°C.
  • Измерения в исходной концентрации (10%) и после 30-кратного разбавления дистиллированной водой (0,33 мас.%).
  • Каждый образец измерен не менее 3 раз (среднее и стандартное отклонение).
  • pH суспензий: 6,5–7,5 (без коррекции).

Результаты измерений

Благодаря технологии PALS получены стабильные значения дзета-потенциала для всех четырёх образцов. На рисунках 1–4 представлены фазовые графики — наклон графика пропорционален доплеровскому сдвигу. Во всех случаях графики имеют чёткий линейный наклон и отличное отношение сигнал/шум.

Фазовый график образца 1# диоксида кремния

Рисунок 1. Фазовый график и тенденция дзета-потенциала образца 1#: исходная концентрация (слева) и разбавление 30× (справа).

Фазовый график образца 2#

Рисунок 2. Фазовый график и тенденция дзета-потенциала образца 2#: исходная концентрация (слева) и разбавление 30× (справа).

Фазовый график образца 3#

Рисунок 3. Фазовый график и тенденция дзета-потенциала образца 3#: исходная концентрация (слева) и разбавление 30× (справа).

Фазовый график образца 4#

Рисунок 4. Фазовый график и тенденция дзета-потенциала образца 4#: исходная концентрация (слева) и разбавление 30× (справа).

Все измеренные значения дзета-потенциала отрицательны (от –38 мВ до –58 мВ), что соответствует отрицательному заряду поверхности наночастиц SiO₂ в воде.

Таблица 1. Результаты измерения дзета-потенциала образцов диоксида кремния

Обсуждение результатов

Все образцы показывают |ζ| > 30 мВ (от –38 до –57 мВ в исходном состоянии) — образование агрегатов маловероятно, суспензии обладают высокой агрегативной устойчивостью.

  • Сравнение образцов: максимальную стабильность имеют 1# и 2#, следом 3#, наименьший модуль – у 4#.
  • Влияние разбавления: после 30-кратного разбавления образцы 2# и 3# показали рост абсолютного значения дзета-потенциала (на –6,3 и –11,4 мВ). Это связано со снижением ионной силы и уменьшением экранирования заряда. При разбавлении стабильность может возрастать.
  • Воспроизводимость: стандартные отклонения ≤2,1 мВ — отличный результат для рутинного контроля.

Заключение и практические рекомендации

1. BeNano 180 Zeta успешно измерил дзета-потенциал высококонцентрированных (10%) суспензий нанодиоксида кремния в исходном виде и после разбавления.

2. Все образцы стабильны (|ζ| > 30 мВ), но 1# и 2# — наиболее перспективны для применений, требующих максимальной устойчивости.

3. Эффект разбавления (рост стабильности у 2# и 3#) важен для технологических регламентов.

4. Ключевые преимущества BeNano 180 Zeta: высокая чувствительность (PALS), воспроизводимость (σ < 2 мВ), работа с концентрированными образцами, соответствие ISO 13099.

Рекомендуемое применение: входной контроль сырья (наночастицы SiO₂, оксиды металлов, латексы), оптимизация рецептур, контроль стабильности CMP-паст, суспензий, чернил, сравнение партий продукции.

🔬 Акция: тестирование вашего образца

Получите консультацию или закажите демо

✅ Хотите протестировать свой образец на BeNano 180 Zeta?
✅ Нужна помощь в подборе методики измерения дзета-потенциала?
✅ Желаете сравнить характеристики с другими приборами?

Оставьте заявку на нашем сайте, либо свяжитесь с нами по телефону.

 

Рекомендуемое оборудование

Анализатор размера наночастиц BeNano 180 Zeta Pro

Анализатор размера наночастиц BeNano 180 Zeta Pro

Измерение: размер частиц, дзета потенциал, молекулярная масса

Угол обнаружения: 12°, 90°, 173°

Размер частиц: 0,3 — 15000 нм

Молекулярная масса: 342 Да — 2000 мДа

Дзета потенциал: практического ограничения нет

Диспергирование: мокрое

Технология: DLS, ELS, SLS

все характеристики свернуть
ПОДРОБНЕЕ
Анализатор размера наночастиц BeNano 90 Zeta

Анализатор размера наночастиц BeNano 90 Zeta

Измерение: размер частиц, дзета потенциал, молекулярная масса

Угол обнаружения: 12°, 90°.

Размер частиц: 0,3 — 15000 нм

Молекулярная масса: 342 Да — 2000 мДа

Дзета потенциал: практического ограничения нет

Диспергирование: мокрое

Технология: DLS, ELS, SLS

все характеристики свернуть
ПОДРОБНЕЕ
Анализатор размера наночастиц BeNano 180 Zeta Pro с модулем RCS

Анализатор размера наночастиц BeNano 180 Zeta Pro с модулем RCS

Измерение: размер частиц, дзета потенциал,

молекулярная масса,

размер частиц методом седиментации,

Микрореология, показатель преломления RI,

Концентрация, Пропускание Т%,

Угол обнаружения: 12°, 90°, 173°, 0°

Размер частиц: 0,3 — 15000 нм

Молекулярная масса: 342 Да — 2000 мДа

Дзета потенциал: практического ограничения нет

Диспергирование: мокрое

Технология: DLS, ELS(PALS), SLS

все характеристики свернуть
ПОДРОБНЕЕ

Обратный звонок

Оставьте заявку и мы перезвоним вам в ближайшее время

Заказать звонок
Нажимая кнопку «Оставить заявку», вы даете согласие на обработку своих персональных данных в соответствии со статьей 9 Федерального закона от 27 июля 2006 г. № 152-ФЗ «О персональных данных»